Pan A.V., Du J., Rubanov S., Jones A., Lam S.K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, films epitaxial, PLD process, microstructure, X-ray diffraction, fabrication, substrate LaAlO3, annealing process, critical caracteristics, critical current density, pinning, magnetic field dependence, experimental results
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2019, v.29, N 5-3, p.7200205
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.